LCR数字电桥的C-D L-Q R-Q的说明
LCR测试仪上显示的D是损耗值正切角，Q是品质因数。两个量的定义如下：
1、损耗值正切角：
如果对一个电容加上一个电压，除了对电容充电的电流外还有漏掉的电流(电容的漏电流)，漏电流被消耗成了热能，因此表示为电阻上的电流。漏电流与纯电容的充电电流之比就是电容损耗角正切值。
2、品质因数：
电学和磁学的量。表示一个储能器件(如电感线圈、电容等)、谐振电路中所储能量同每周期损耗能量之比的一种质量指标;串联谐振回路中电抗元件的Q值等于它的电抗与其等效串联电阻的比值;元件的Q值愈大，用该元件组成的电路或网络的选择性愈佳。
LCR电桥中电感、电容、电阻参数测量仪，不仅能自动判断元件性质，而且能将符号图形显示出来，并显示出其值。其还能测量Q、D、Z、Lp、Ls、Cp、Cs、Kp、Ks等参数，且显示出等效电路图形。
LP和LS是参数!
Ls 和 Lp S=SERIER串联的意思，P=并联，
C电容也同样，这样就清楚了，一个是串联测试，一个是关联测试。
L用串联测试，C用并联测试，等效电路连接。
为什么说LCR 电桥很难测高Q和低D器件，比如MLCC片式多层陶瓷电容器?
LCR电桥Q值和D值测量是依据如下图原理公式计算得来：
假定 Q = 10，0 则 ESR 为 1/100 的 XL。可见，ESR 在 Z = ESR + j*X中L 占的分量比较小，所以仪器或测量环境引起 ESR 微弱的变化都会被放大 100 倍，反应出的现象就是：Q 值稳定性不好或测量数据跳动较大。同样的道理也适用于电容 D 的测量。
用户能做的就是尽量选择好一点的测试夹具改善效果，原则：能用 0m 的不要用 1m 的，能用 4 端测量不要用 2 端测量。
